WG-M3* Medidor De Resistencia al recubrimiento 0.010Ω  to 50.00kΩ

SDSAD

Ampliamente utilizado: Comprobador de resistencia de láminas

1. Película de cubierta; película de polímero conductor, película de calentamiento eléctrico de alta y baja temperatura; aislamiento térmico, película conductora para ventanas, tela conductora (protectora), película decorativa, papel decorativo; etiqueta metalizada, película de lámina de aleación; fundición, sinterización, pulverización catódica, revestimiento, capa de revestimiento, película de pantalla táctil resistiva y capacitiva; revestimiento de electrodos, otros materiales semiconductores, prueba de resistencia cuadrada de material de película.

2. Lingote de silicio, capa de resistividad y difusión de obleas, capa epitaxial, película de lámina conductora de ITO, caucho conductor, etc., resistencia de materiales, material/oblea semiconductor, célula solar, componente electrónico, película conductora (vidrio de película conductora de ITO, etc.), película metálica, película de pintura conductora, película de aluminio evaporado, película de lámina de cobre para PCB.

3. Resistencia de capa fina y resistividad eléctrica de materiales como recubrimientos EMI Pinturas conductoras, pastas conductoras, plásticos conductores, cauchos conductores, películas conductoras, películas metálicas,

4. Materiales antiestáticos, materiales de protección EMI, fibras conductoras, cerámicas conductoras, etc.

Tamaño del material (determinado por el soporte del cabezal de la sonda SZT-C)

Diámetro: 180 mm x 180 mm, sondas manuales ilimitadas;

Longitud (altura): H ≤ 100 mm, sondas manuales ilimitadas.

Orientación de la medición: axial y radial

Norma de referencia:

GB/T 1551-2009 "Método de determinación de la resistividad de un solo cristal de silicio"

GB/T 1552-1995 "Método de cuatro sondas para medir la resistividad de un solo cristal de silicio y germanio"

DATOS TECNICOS